Seccions

sou aquí sou aquí: inici següent Fitxa de l'equip


2 imatges disponibles
Microscopi de feix d'ions focalitzats
Marca: Zeiss
Model: Neon 40

Equip consistent en un microscopi de feix d'ions focalitzats amb doble columna iònica i electrònica per a l'observació de mostres sòlides L’equip ofereix la possibilitat de realitzar talls selectius, deposicions de capes, tomografia tridimensional, anàlisi elemental i quantificació d'orientació cristal·lina.

L’equip permet la preparació de mostres primes per microscòpia electrònica de transmissió “TEM” i microfabricació de mostres.

L’equip permet l’anàlisi per mostres de 50x50 mm.


La UPC ofereix la prestació dels serveis que es poden realitzar amb aquest equip.

Informació i ús

  • Per a més informació sobre les característiques o possibilitats d'aquest equip, així com per realitzar una petició d'ús, pot posar-se en contacte amb:

    Montserrat Dominguez Escalante
    Telèfon: 93 4015794
    Adreça electrònica: montserrat.dominguez.escalanteupc.edu
    Unitat de recerca: Centre de Recerca en Nanoenginyeria (CRNE)
  • També pot realitzar una petició d'ús d'aquest equip al personal tècnic dels SCT, que li realitzarà la tramitació corresponent:
Serveis Cientificotècnics de la UPC
© UPC Obriu l'enllaç en una finestra nova. Universitat Politècnica de Catalunya · BarcelonaTech.