Equip consistent en un microscopi electrònic que permet l'observació i estudi de mostres sòlides i conductores mitjançant la interacció d'un feix d'electrons amb la superfície del material objecte d'estudi, que proporciona imatges de gran resolució de la topografia superficial de la mostra, que poden ser tractades i analitzades posteriorment. Per a la preparació de mostres no conductores, es disposa d'un equip de sputtering que diposita una fina capa d'or sobre la superfície.